高精度涂層測(cè)厚儀CTG260(多用型）
簡單介紹
CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(多用型）是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(多用型）通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(多用型）能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。
CTG260測(cè)量原理：
本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
◆磁性法(F型測(cè)頭)：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
◆渦流法(N型測(cè)頭)：利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法
GB/T4957─1985非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法
JB/T8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量儀
JJG889─95《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG818─93《電渦流式測(cè)厚儀》
產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆采用密閉金屬外殼，經(jīng)久耐用，有效防止油污，提高儀器使用壽命；
◆CTG260采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
◆可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
◆具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
◆具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
◆設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
◆可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
◆具有存貯功能：可存貯495個(gè)測(cè)量值；
◆具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
◆可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
◆具有電源欠壓指示功能；
◆操作過程有蜂鳴聲提示；
◆具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
◆設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
高精度涂層測(cè)厚儀CTG260(多用型）探頭技術(shù)參數(shù)表
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| 測(cè)頭型號(hào) | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 |
| 測(cè)量范圍（um） | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | 10-200 |
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] |
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1.5] | - |
| 測(cè)量條件 | 小曲率半徑(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 |
| 基體小面積的直徑(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 |
| 小臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無限制 |
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測(cè)頭選用參考表
| 覆蓋層 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) |
| 基體 | 覆蓋層厚度不超過100µm | 覆蓋層厚度超過100µm | 覆蓋層厚度不超過100µm | 覆蓋層厚度超過100µm |
| 如 鐵、鋼 | 被測(cè)面積的直徑大于30mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm |
| 等磁性金屬 | F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F10 型測(cè)頭 0～10mm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F10 型測(cè)頭 0～10mm |
| | 被測(cè)面積的直徑小于30mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm |
| | F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm |
| 如銅 、鋁 、 | 被測(cè)面積的直徑大于5mm | N1 型測(cè)頭 0～1250µm | 僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40µm |
| 黃銅 、鋅 、錫 |
| 等 有色金屬 |
| 塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測(cè)面積的直徑大于7mm | - | - | CN02 型測(cè)頭10～200µm |
基本配置：
1臺(tái)
F1或N1測(cè)頭1支校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片1套（含試片5片，基體1塊）電池2節(jié)通訊電纜1根
通訊軟件1張
手提密碼箱1個(gè)
隨機(jī)文件1套（合格證，保修卡，說明書等）
可選附件：
F1、N1、F400、F1/90°、F10、CN02等各種用途探頭，微型打印機(jī)。
