鍍層測厚儀sf8000

　　鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型**儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

　　性能優(yōu)勢

　　1.精密的三維移動平臺

　　2.**的樣品觀測系統(tǒng)

　　3.**的圖像識別

　　4.輕松實現深槽樣品的檢測

　　5.四種微孔聚焦準直器，自動切換

　　6.雙重保護措施，實現無縫防撞

　　7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

　　全自動智能控制方式，一鍵式操作!

　　開機自動自檢、復位；

　　開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；

　　關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦；

　　直接點擊全景或局部景圖像選取測試點；

　　點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結果。

　　技術指標

　　分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）

　　同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層

　　檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm

　　分析含量：一般為2ppm到99.9%

　　鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）

　　重復性：可達0.1%

　　穩(wěn)定性：可達0.1%

　　SDD探測器：分辨率低至135eV

　　**的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

　　樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭

　　準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合

　　儀器尺寸：690（W）x575（D）x660（H）mm

　　樣品室尺寸：520（W）x395（D）x150（H）mm

　　樣品臺尺寸：393（W）x258（D）mm

　　X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s高速度333.3mm/s

　　X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um

　　操作環(huán)境濕度：≤90%

　　操作環(huán)境溫度：15℃～30℃